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                                            產品分類
                                            您現在的位置:首頁 > 產品展示 > X射線熒光光譜儀 > X射線鍍層測厚儀 > iEDX-100TX射線膜厚測試儀

                                            X射線膜厚測試儀

                                            簡要描述:

                                            產品類型:能量色散X熒光光譜分析設備
                                            產品名稱:X射線膜厚測試儀
                                            型 號:iEDX-100T
                                            生 產 商:韓國ISP公司
                                            亞太地區戰略合作伙伴:廣州鴻熙電子科技有限公司

                                            更新時間:2023-04-24

                                            品牌ISP/韓國行業專用類型通用
                                            價格區間10萬-30萬儀器種類臺式/落地式
                                            應用領域化工,石油,地礦,電子

                                            (一)X射線膜厚測試儀產品優勢:

                                            1. 鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩定性可控制在+/-5%內。

                                            2. 儀器尺寸:618*525*490mm。

                                            3. 激光定位和自動多點測量功能。

                                            可檢測固體、粉末狀態材料。

                                            運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低。

                                            可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。

                                            操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性,快速出檢測結果。

                                            可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

                                            軟件*升級。

                                            無損檢測,一次性購買標樣可長期使用。

                                            使用安心無憂,售后服務響應時間24H以內,提供*保姆式服務。

                                            可以遠程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。

                                            可進行RoHS檢測(選配功能),應對新版中華人民共和國RoHS檢測要求,歐盟及北美RoHS檢測等要求標準,精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬,測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進行分析。

                                            (二)X射線膜厚測試儀產品特征

                                            高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)

                                            計算機 / MCA(多通道分析儀)

                                            2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數字轉換器)

                                            Multi Ray. 運用基本參數(FP)軟件,通過簡單的三步進行無標樣標定,使用基礎參數計算方法,對樣品進行精確的鍍層厚度分析,可以增加RoHS檢測功能。

                                            MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析

                                            勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

                                            吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

                                            線性模式進行薄鍍層厚度測量

                                            相對(比)模式  無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

                                            多鍍層厚度同時測量

                                            單鍍層應用 [如:Cu/ABS等]

                                            雙鍍層應用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

                                            三鍍層應用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]

                                            四鍍層應用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

                                            合金鍍層應 [如:Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

                                            5. Smart-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊??赏瑫r分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。

                                            Smart-Ray. 金屬行業精確定量分析軟件??梢淮涡苑治?5種元素。小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內部元素作用分析。金屬分析精度可達+ /-0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達+ /-0.05kt

                                            Smart-Ray。含全元素、內部元素、矩陣校正模塊

                                            Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統

                                            完整的統計函數均值、 標準差、 低/高讀數,趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等

                                            自動移動平臺,用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量。大測量點數量 = 每9999 每個階段文件。每個階段的文件有多 25 個不同應用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。

                                            (三)X射線膜厚測試儀產品配置及技術指標說明

                                            u 測量原理:能量色散X射線分析

                                            u 樣品類型:固體/粉末

                                            u X射線光管:50KV,1mA

                                            u過濾器:多重濾光片自動轉換

                                            u檢測系統:SDD探測器(或Si-Pin)

                                            u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

                                            u檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92)

                                            u準直器孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選)

                                            u應用程序語言:韓/英/中

                                            u分析方法:FP/校準曲線,吸收,熒光

                                            u儀器尺寸:618*525*490mm

                                            u樣品腔尺寸:340*280*108mm

                                            X射線管:高穩定性X光光管

                                            微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶

                                            鈹窗口, 陽極焦斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。

                                            50kV,1mA。高壓和電流設定為應用程序提供優異性能。

                                            探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)

                                            能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

                                            濾光片/可選

                                            初級濾光片:Al濾光片,自動切換

                                            7個準直器:客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。

                                            (0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

                                            樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能

                                            分析譜線:

                                            - 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數字轉換)

                                            - 基點改正(基線本底校正)

                                            - 密度校正

                                            - Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數自動顯示

                                            視頻系統:高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統

                                            - 觀察范圍:3mm x 3mm

                                            - 放大倍數:40X

                                            - 照明方法:上照式

                                            - 軟件控制取得高真圖像

                                            計算機、打印機(贈送)

                                            含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標

                                            含Win 7/Win 10系統。

                                            Multi-Ray鍍層分析軟件

                                             


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